掃描式電子顯微鏡 FEI Inspect S (SEM)

TC5-EM2

利用電子束打在樣本表面進行掃描,適合觀察樣本的表面起伏。

2個月內 (2017/10/17 - 2018/02/17) 的預約狀況:

2017/12/17 - 2017/12/23

時段 週日
2017/12/17
週一
2017/12/18
週二
2017/12/19
週三
2017/12/20
週四
2017/12/21
週五
2017/12/22
週六
2017/12/23
09:00-12:00 預約 黎立懿 已預約 預約 預約 預約 預約 預約
14:00-17:00 預約 預約 預約 預約 預約 預約 預約