掃描式電子顯微鏡 FEI Inspect S (SEM)

TC5-EM2

利用電子束打在樣本表面進行掃描,適合觀察樣本的表面起伏。

2個月內 (2017/12/19 - 2018/04/19) 的預約狀況:

2018/02/18 - 2018/02/24

時段 週日
2018/02/18
週一
2018/02/19
週二
2018/02/20
週三
2018/02/21
週四
2018/02/22
週五
2018/02/23
週六
2018/02/24
09:00-12:00 尚未開放 尚未開放 尚未開放 尚未開放 包欣平 已預約 預約 預約
14:00-17:00 尚未開放 尚未開放 尚未開放 尚未開放 預約 預約 預約