掃描式電子顯微鏡 FEI Inspect S (SEM)

TC5-EM2

利用電子束打在樣本表面進行掃描,適合觀察樣本的表面起伏。

2個月內 (2018/04/20 - 2018/08/20) 的預約狀況:

2018/06/17 - 2018/06/23

時段 週日
2018/06/17
週一
2018/06/18
週二
2018/06/19
週三
2018/06/20
週四
2018/06/21
週五
2018/06/22
週六
2018/06/23
09:00-12:00 預約 預約 預約 邱沛馨 已預約 預約 鄧璐 已預約 預約
14:00-17:00 預約 預約 陳伯瑜 已預約 預約 預約 預約 預約