掃描式電子顯微鏡 FEI Inspect S (SEM)

TC5-EM2

利用電子束打在樣本表面進行掃描,適合觀察樣本的表面起伏。

2個月內 (2017/08/24 - 2017/12/24) 的預約狀況:

2017/10/22 - 2017/10/28

時段 週日
2017/10/22
週一
2017/10/23
週二
2017/10/24
週三
2017/10/25
週四
2017/10/26
週五
2017/10/27
週六
2017/10/28
09:00-12:00 預約 預約 預約 預約 翁淩維 已預約 黃彥程 已預約 預約
14:00-17:00 預約 謝佩錡 已預約 預約 預約 預約 預約 預約