掃描式電子顯微鏡 FEI Inspect S (SEM)

TC5-EM2

利用電子束打在樣本表面進行掃描,適合觀察樣本的表面起伏。

2個月內 (2017/03/23 - 2017/07/23) 的預約狀況:

2017/05/21 - 2017/05/27

時段 週日
2017/05/21
週一
2017/05/22
週二
2017/05/23
週三
2017/05/24
週四
2017/05/25
週五
2017/05/26
週六
2017/05/27
09:00-12:00 預約 預約 預約 預約 黎立懿 已預約 預約 預約
14:00-17:00 預約 預約 陳香君 已預約 預約 預約 預約 預約