掃描式電子顯微鏡 FEI Inspect S (SEM)

TC5-EM2

利用電子束打在樣本表面進行掃描,適合觀察樣本的表面起伏。

2個月內 (2017/06/23 - 2017/10/23) 的預約狀況:

2017/08/20 - 2017/08/26

時段 週日
2017/08/20
週一
2017/08/21
週二
2017/08/22
週三
2017/08/23
週四
2017/08/24
週五
2017/08/25
週六
2017/08/26
09:00-12:00 預約 預約 預約 莊以君 已預約 預約 預約 預約
14:00-17:00 預約 張家昀 使用中 預約 預約 張家昀 已預約 黎立懿 已預約 預約