活動資訊

SEM 掃描式電子顯微鏡使用權限開通 (TC5-EM2) 已報名: 32人

活動編號
TC5-EM2-170320
日期
2017/03/20 起
類別
考核測驗
相關平台
TC5
等級
基礎
活動時數
1hr
學分數
0學分
開通儀器
掃描式電子顯微鏡 FEI Inspect S (SEM)
金離子覆膜機 Eiko Engineering (Ion Coater)
臨界點乾燥儀 Hitachi HCP-2 (CPD)
內容

SEM、Ion Coater、CPD 使用權限開通考核

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